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                        分立器件測試儀

                        更新時間:2019-01-11

                        簡要描述:

                        分立器件測試儀升級擴展性強,通過選件可提高電壓電流,和增加測試品種范圍。支持電壓電流階梯升級至2000V,1250A

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                        hustec-2005 半導體分立器件測試系統

                         基礎配置:

                        技術參數

                        ENJ2005-B型

                        主極電流

                        100nA-50A

                        擴展電流

                        100A、500A、1000A、1300A

                        電壓分辨率

                        1mV

                        電流分辨率

                        1nA(可擴展至10pA)

                        測試精度

                        0.2%+2LSB

                        測試速度

                        0.5mS/參數

                        分立器件測試儀測試參數:

                        漏電參數:IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、     IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)
                        擊穿參數:BVCEO   BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、 VD、  BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、 VD+、VD-、BVDGO、BVZ、
                                        BVEBO、 BVGSS、 BVGKO
                        增益參數:hFE、CTR、gFS、
                        導通參數:VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VGETH、VTM、VSD、
                                        IDON、VSAT、IDON、 Notch = IGT1,IGT4、ICON、VGEON、VO    (Regulator)、IIN(Regulator)
                        混合參數:rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation
                        關斷參數:VGSOFF      
                        觸發參數:IGT、VGT
                        保持參數:IH、IH+、IH-
                        鎖定參數:IL、IL+、IL-

                        分立器件測試儀系統特征:

                        ● 測試范圍廣(19大類,27分類)
                        ● 采用脈沖測試法,脈沖寬度為美軍標規定的300uS
                        ● 被測器件引腿接觸自動判斷功能,遇到器件接觸不良時系統自動停止測試,確保被測器件不受損壞
                        ● 真正的動態跨導測試。(主流的直流方法測動態跨導,其結果與器件實際值偏差很大)
                        ● 系統故障在線判斷修復能力,便于應急處理排除故障

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